2024年1月23日，中国散裂中子源微小角中子散射谱仪（简称CSNS VSANS）文章《The multi-slit very small angle neutron scattering instrument in China Spallation Neutron Source》被国际晶体学和仪器类知名期刊Journal of Applied Crystallography接收并发表，标志着中国散裂中子源微小角中子散射谱仪的各项性能得到国际专家的认可，做好了对国内外用户正式开放的准备。
CSNS VSANS是世界首台基于散裂中子源的微小角中子散射谱仪（图1），建设团队精诚合作，突破了多狭缝高精度准直技术，滚筒高精度切换和世界一流GEM探测器的研制等关键技术难点，得到评审专家的高度评价：“通过少量的基准实验即可验证谱仪的性能，并提供新谱仪的全面技术信息，特别是VSANS谱仪的散射矢量覆盖范围和分辨率”。
微小角中子散射谱仪覆盖从3埃米-1 微米的多尺度结构范围，兼具常规小角、微小角、极化小角和掠入射小角散射功能，具有散射矢量范围宽、实验模式多样、准直长度切换灵活、本底低等优势。该谱仪可广泛应用于各领域的前沿科学研究，包括但不限于生物医药、高分子材料、含能材料、合金材料、磁性及纳米材料等。谱仪计划2024年3月正式开放运行，将服务于国家高科技发展战略需求，在粤港澳大湾区的科技发展与产业升级等方面发挥重要作用。
微小角中子散射谱仪关键部件：（a）弯导管；（b）滚筒准直系统；（c）滚筒1；（d）俯瞰图；（e）3台小角模式的3He管探测器；（f）微小角模式的GEM探测器；（g）GEM探测器的布局
内容来源：中国科学院重大科技基础设施共享服务平台
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原文链接：http://lssf.cas.cn/lssf/slzzy/xwdt/202401/t20240131_4585994.html
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