前沿透视：Sci. Adv. - 基于窄带隙共轭聚合物的宽带红外光电探测器

红外光（IR）检测为现代工业、科学、能源、医疗和国防应用奠定了基础。跨越不同波长（λ）范围的无机半导体和复杂的制造系统是超过硅的截止点（λc ~ 1.1 μm）的技术基础。美国南密西西比大学Jason D. Azoulay教授团队报道了一种基于能跨越SWIR-LWIR宽带范围的供体-受体（D-A）共轭聚合物的高性能红外光电检测技术。该聚合物π共轭骨架内的电子相关性促进了高自旋基态、窄带隙、长波长吸收和本征导电性。这些以前未观察到的特性使得从溶液中制造薄膜光电导探测器成为可能，该探测器显示出大于2.1×109 Jones的特定探测率。这种能在室温下的检测技术非常接近当前所用的冷却外延器件的检测技术。

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DOI: 10.1126/sciadv.abg2418

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