前沿透视：AFM - 基于高面内各向异性2D PdSe2的取向选择性偏振光探测

来源：今日新材料

偏振敏感光电探测器在导航、遥感和军事等领域中具有重要的应用价值。通常，高度灵敏且通用的偏振检测需要在偏振光电探测器中使用具有高各向异性和易调控性的有源层。平面内各向异性2D材料由于对线性偏振光本征敏感且与现代硅工艺兼容的特性，使其适用于偏振敏感的光检测器。

近日，华中科技大学（HUST）翟天佑教授和周兴讲师等人报道了2DPdSe2具有强的本征面内各向异性和独特的取向选择性，并具有高度灵敏的偏振光检测能力。反射差分谱（ADRDM）作为一种成像检测方法，可以快速准确的识别晶体取向并直接可视化PdSe2薄片的强光学各向异性。此外，室温下2DPdSe2薄片电子迁移率的各向异性比可以达到2.3，而当温度降低至80K时，电子迁移率的各向异性比可进一步提高到8.9。而且基于PdSe2薄片的偏振光电探测器可以有效的探测线性偏振光，其中在532nm激光下的线性二色比为1.8，在369nm激光下的线性二色比为2.2，并且探测器在紫外和可见光波段的最强极化取向相差90o，分别对应于a轴和b轴。这种偏振光检测中的极化反转现象与偏振光吸收相一致，进一步表明偏振光检测源于材料本征的线性二色性。2DPdSe2结合偏振光检测中独特的取向选择性与强的面内各向异性，使其有潜力应用于新一代的偏振敏感光电探测器。

文献链接：
Highly In-Plane Anisotropic 2D PdSe2 for Polarized Photodetection with Orientation Selectivity，Adv. Funct. Mater.，2020
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adfm.202006774

原文链接：
http://www.cailiaoniu.com/212223.html